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Plasma edge modelling with ICRF coupling

Wei Zhang, David Coster, Yuhe Feng, Tilmann Lunt, Diogo Aguiam, Roberto Bilato, Volodymyr Bobkov, Jonathan Jacquot, Philippe Jacquet, Ernesto Lerche et al. (2 de plus)

EPJ Web Conf., 157 (2017) 03066

Publié en ligne : 23 octobre 2017

DOI: 10.1051/epjconf/201715703066

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